专利
专利名称: 热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法
专利类别: 发明
专 利 号: ZL02123746.8
第一发明人: 张仁华
其他发明人: 孙晓敏、朱治林、唐新斋、苏红波
专利授权日期: 2005.02.21