专利
专利名称: 一种比辐射率二维分布及其尺度转换的测量仪器和测量方法
专利类别: 发明专利
专 利 号: ZL200810241091.2
第一发明人: 张仁华,孙晓敏,田静,朱治林
其他发明人:
专利授权日期: 2010-6-23