专利
专利名称: 热红外下行辐射测定装置及其测定方法
专利类别: 发明专利
专 利 号: 201210362463.3
第一发明人: 张仁华
其他发明人: 邵全琴,樊江文,邴龙飞
专利授权日期: 2015-02-25