专利
专利名称: 一种石窟崖体裂隙空间异质分布的无损探测综合方法
专利类别: 发明授权
专 利 号: CN112965135B
第一发明人: 长安大学; 中国科学院地理科学与资源研究所
其他发明人:
专利授权日期: 2023-08-15